Form Talysurf PGI Optics
用于精密光学元件的*高精度测量仪器
自从1984年**发布以来，Form Taylsurf迅速成为测量非球面形状误差的光学制造商的优选。
从那以后，我们在全球范围内安装了数千台仪器，使得Talysurf PGI成为真正的行业标准。
我们的砖利PGI(相位光栅干涉仪)技术使您能够利用短测针测量大尺寸凹透镜，实现*高精度的测量。
Taylor Hobson制造的这些触针具有高刚度和低力度双重优势，与同类产品相比，带来更佳的精度和重复性。
*容易编程
*一键测量
*快速、**
*针对生产环境设计
*强大的分析工具提高您的产能和生产率
*省时的软件功能
*自动化软件程序带来可重复的高精度测量
*致力于光学计量
*新的宽量程测量仪：可测量大尺寸凹透镜，精度保持不变
测量仪量程：14 / 28mm
系统噪声： <2nm Rq
测量： 直径可达300mm(单轨迹测量)
形状误差： <100nm
*60mm/120mm触针
致力于光学计量
满足下一代光学元件不断增长的需求
深入的非球面衍射分析：
*轻松分析超过500个区带的复杂衍射
*通过与设计直接对比来识别区带直径
*输出衍射形状误差用于刀具路径校正
快速X偏移校正的独特解决方案：
*显著缩短SPDT设置时间
*X偏移和形状误差可通过单一分析校正
*提高速度，节省时间
大直径光学元件：
*技术优越的单轨迹测量，长度可达300mm
*在300mm的全长内达到上等的平直度
*SAG>28mm
散光分析：
*易于编程，使用程序来判定部件中是否存在散光
*输出平均轮廓用于刀具路径校正
*三维残余表面生成，带来先进的更正
配件：
自动化机动工作台保证精度：
*增加Y和/或旋转式机动工作台，与一个精密的倾斜中央工作台配合使用
*轻松编写程序为单个或多个径向轨迹测量提供选项
*自动化散光分析—结合多个径向轨迹测量来查看散光
*确保多个不同的操作员使用时也能获得一致的**测量。
Form Talysurf PGI Matrix
全自动化的快速、**的系统用于批量光学元件测量
易于安装、测试和分析单个或多个部件，使其成为快速、准确测试光学元件的理想系统。
Form Talysurf PGI Matrix的增强功能和软件架构支持移动设备镜头、眼科透镜、医疗和光纤、高功率LED和晶片透镜阵列的高速测量
提高测量一致性和准确性，同时缩短测量循环时间。Form Talysurf PGI Matrix提供一站式解决方案。
*容易编程
*简单易用
*超快速
*全自动
*专门针对生产环境
*Form Talysurf PGI Matrix包含一个高精度旋转式Y轴台用于**、自动化的部件定位。
测量仪量程：28mm
噪声： <4nm Rq
测量： 单一或多部件测量
形状误差： <100nm
针对生产环境设计：
节省时间和**，不会损失精度
简单的复杂阵列设置、测量和分析：
*选择部件设计来定义阵列布局。
—低密度、PCD、晶片等
*轻松选择测量和分析数据的格式，可以选择将结果存储在选择的位置
*选择存储结果的位置
*选择要测量的“批”
*有关测量通过/失败的实时反馈，并提供清晰的指示
*自动分析显示批结果统计
—允许浏览单个部件结果
*定义完整的脱机测量并传输到仪器进行测量
*只需传输结果文件夹便可脱机查看和重新分析已完成的测量。
连续测量
